西北大学主页平台管理系统陈诚--中文主页-- A new exploration of quality testing technique for the wafer-scale graphene film based on the terahertz vector network analysis technology

A new exploration of quality testing technique for the wafer-scale graphene film based on the terahertz vector network analysis technology: 点击次数：; 影响因子：6.7; DOI码：10.1016/j.apsusc.2023.156498; 所属单位：西北大学；荷语布鲁塞尔自由大学（VUB）；欧洲微电子中心（IMEC）; 发表刊物：Applied Surface Science; 刊物所在地：荷兰; 关键字：Quality testing；Homogeneity；Anisotropy；Terahertz vector network analyzer；Graphene film; 备注：第一作者，SCI检索，中科院一区，TOP期刊。; 论文类型：期刊论文; 论文编号：10.1016/j.apsusc.2023.156498; 学科门类：工学; 一级学科：电子科学与技术; 文献类型：J; 卷号：616; 页面范围：156498-156511; 字数：15666; 是否译文：否; 收录刊物：SCI; 发布期刊链接：https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2023.156498; 第一作者：Cheng Chen; 通讯作者：Zhiyong Zhang; 通讯作者：Johan Stiens; 合写作者：Ali Pourkazemi; 合写作者：Wu Zhao; 合写作者：Niko Van den Brande; 合写作者：Tom Hauffman

上一条： Improvement of absorbing stability of carbon nanofibers in sub-terahertz domain using the surface modification of zinc oxide

下一条： Study on photoelectricity properties of SiCN thin films prepared by magnetron sputtering