专利

X射线发光断层成像的目标可行区提取方法

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所属单位:信息科学与技术学院(软件学院)

专利范围:国内

学校署名:第一单位

专利类型:发明专利

申请号:201710448648.9

是否职务专利:

申请日期:2017-06-14

第一作者:易黄建