- Band alignment of TiO2/FTO interface determined by X-ray photoelectron spectroscopy: Effect of annealing
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- 所属单位：物理学院
- 发表刊物：AIP ADVANCES
- 刊物所在地：国外学术期刊
- 论文类型：期刊论文
- 论文编号：5b75928c620a7807016217b361ce099d
- 页面范围：卷: 6 期: 1
- ISSN号：2158-3226
- 是否译文：否
- 第一作者：范海波
